Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations

Specificaties
Gebonden, 340 blz. | EN
World Scientific Publishing Co Pte Ltd | e druk, 2015
ISBN13: 9789814630344
Rubricering
World Scientific Publishing Co Pte Ltd e druk, 2015 9789814630344
Verwachte levertijd ongeveer 16 werkdagen

Samenvatting

The atomic force microscope (AFM) is a highly interdisciplinary instrument that enables measurements of samples in liquid, vacuum or air with unprecedented resolution.

Specificaties

ISBN13:9789814630344
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:340
Uitgever:World Scientific Publishing Co Pte Ltd

Rubrieken

    Personen

      Trefwoorden

        Fundamentals Of Atomic Force Microscopy - Part I: Foundations