Ion Beam Techniques for the Analysis of Light Elements in Thin Films, Including Depth Profiling

Specificaties
Paperback, 278 blz. | Engels
John Wiley & Sons | e druk, 2004
ISBN13: 9789201104045
Rubricering
John Wiley & Sons e druk, 2004 9789201104045
Verwachte levertijd ongeveer 16 werkdagen

Specificaties

ISBN13:9789201104045
Taal:Engels
Bindwijze:paperback
Aantal pagina's:278

Rubrieken

Populaire producten

    Personen

      Trefwoorden

        Ion Beam Techniques for the Analysis of Light Elements in Thin Films, Including Depth Profiling