E. M. Murt
Springer US
0e druk, 2013
9781489959126
Physical Measurement and Analysis of Thin Films
Specificaties
Paperback, 194 blz.
|
Engels
Springer US |
0e druk, 2013
ISBN13: 9781489959126
Rubricering
Onderdeel van serie
Progress in Analytical Chemistry
Levertijd ongeveer 8 werkdagen

