Manfred Grasserbauer,
Hans Joachim Dudek,
Maria F Ebel,
Maria F. Ebel
e.a.
e druk, 1986
9783112702666
Angewandte Oberflächenanalyse mit SIMS, AES und XPS
Specificaties
Gebonden, 312 blz.
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e druk, 1986
ISBN13: 9783112702666
Rubricering
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