Op werkdagen voor 23:00 besteld, morgen in huis Gratis verzending vanaf €20
010-4091943
Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy
Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy
Budhika G. Mendis Meer over Budhika G. Mendis

Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy
Specificaties
Gebonden, 296 blz. | EN
John Wiley & Sons Inc | e druk, 2018
ISBN13: 9781118456095
Rubricering
John Wiley & Sons Inc e druk, 2018 9781118456095
Onderdeel van serie RMS - Royal Microscopical Society
€ 149,88
In winkelwagen
Levertijd ongeveer 15 werkdagen

Specificaties

ISBN13:9781118456095
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:296
Uitgever:John Wiley & Sons Inc
Serie:RMS - Royal Microscopical Society
€ 149,88
Levertijd ongeveer 15 werkdagen

Rubrieken

Uw cookie-instellingen
Deze website maakt gebruik van verschillende soorten cookies. Sommige cookies worden geplaatst door diensten van derden die op onze pagina's worden weergegeven. Om deze externe content te kunnen tonen is nodig dat u toestemming geeft voor het zetten van persoonlijke en marketingcookies. U kunt uw toestemming op elk moment wijzigen of intrekken. In onze cookieverklaring vindt u meer informatie.

    Personen

      Trefwoorden

        Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy

        Recensiebeleid
        AI-book

        Wat is een AI-book?

        Een AI-book is niet een boek dat geschreven is door AI maar een boek dat verrijkt is met AI. Het maakt de inhoud van een boek interactief via WhatsApp, zodat je ermee kunt chatten. Zie het als een razend slimme assistent die het boek perfect begrijpt en er alles uit onthouden heeft. Jij kunt deze assistent alles vragen. Vraag bijvoorbeeld hoe je iets kunt toepassen op jouw persoonlijke situatie, om een korte samenvatting, of wat de belangrijkste inzichten zijn. AI-books zijn alleen te gebruiken via WhatsApp, je hoeft er geen aparte app voor te installeren.
        Meer informatie over AI-books

        ?

        Geef uw beoordeling

        Electron Beam-Specimen Interactions and Simulation Methods in Microscopy

        Verwijder uw beoordeling