Op werkdagen voor 23:00 besteld, morgen in huis Gratis verzending vanaf €20
010-4091943
Atomic Force Microscopy
Atomic Force Microscopy
Greg Haugstad Meer over Greg Haugstad

Atomic Force Microscopy

Understanding Basic Modes and Advanced Applications
Specificaties
Gebonden, 528 blz. | EN
John Wiley & Sons Inc | e druk, 2012
ISBN13: 9780470638828
Rubricering
John Wiley & Sons Inc e druk, 2012 9780470638828
€ 191,67
In winkelwagen
Levertijd ongeveer 15 werkdagen

Samenvatting

This book enlightens readers on the basic surface properties and distance-dependent intersurface forces one must understand to obtain even simple data from an atomic force microscope (AFM).

Specificaties

ISBN13:9780470638828
Taal:EN
Bindwijze:Gebonden
Aantal pagina's:528
Uitgever:John Wiley & Sons Inc
€ 191,67
Levertijd ongeveer 15 werkdagen

Rubrieken

Uw cookie-instellingen
Deze website maakt gebruik van verschillende soorten cookies. Sommige cookies worden geplaatst door diensten van derden die op onze pagina's worden weergegeven. Om deze externe content te kunnen tonen is nodig dat u toestemming geeft voor het zetten van persoonlijke en marketingcookies. U kunt uw toestemming op elk moment wijzigen of intrekken. In onze cookieverklaring vindt u meer informatie.

    Personen

      Trefwoorden

        Atomic Force Microscopy

        Recensiebeleid
        AI-book

        Wat is een AI-book?

        Een AI-book is niet een boek dat geschreven is door AI maar een boek dat verrijkt is met AI. Het maakt de inhoud van een boek interactief via WhatsApp, zodat je ermee kunt chatten. Zie het als een razend slimme assistent die het boek perfect begrijpt en er alles uit onthouden heeft. Jij kunt deze assistent alles vragen. Vraag bijvoorbeeld hoe je iets kunt toepassen op jouw persoonlijke situatie, om een korte samenvatting, of wat de belangrijkste inzichten zijn. AI-books zijn alleen te gebruiken via WhatsApp, je hoeft er geen aparte app voor te installeren.
        Meer informatie over AI-books

        ?

        Geef uw beoordeling

        Atomic Force Microscopy

        Verwijder uw beoordeling